場所の管理

検出器の選択

(R4.2, R4.29(物理), R4.18(化学), R1.4)
・空間線量測定(≒1cm線量当量率),表面汚染
　電離箱式,GM式,NaIシンチレーション式などがある(感度順)
　NaIシンチレーション式は低エネルギー光子には不向き

γ線(中・高線量域)：電離箱式サーベイメータ
¹²⁵I(低線量域)：薄型NaIシンチ式サーベイメータ(エネルギー補償有)

β線：GM管式
低エネルギーβ線(³H)：ガスフロー型薄窓型比例計数管式

α線：ZnSシンチ式,半導体式

熱中性子：BF₃,³He比例計数管

*サーベイメータ：持ち運び用

*フロア(エリア)モニタ：固定して広範囲を持続的に測定する用

・液体の測定
γ線：容器に入れてGe半導体,NaIシンチ式
β線：液体シンチレータ

・手足の汚染
ハンドフットクロスモニタ

・α線の検出　

エネルギー測定(スペクトル測定)

水中の放射性核種の濃度測定

(R2.4,R1.4)

(1)測定法

・排水を直接
「液体・プラスチックシンチレータ(最適)」や
「GM計測管」で測定する方法

・サンプリングした試料を
「ウェル型シンチレーション」や
「液体シンチレーション」で測定する方法

・イオン交換樹脂でRIを吸着して測定する方法

(2)希釈法による排水　

　放射能が排水中の濃度限度を下回るようにする
　また複数の核種が存在する場合,各核種の濃度と濃度限度の比を足し合わせ,この総和が1を下回るようにする

表面汚染の濃度測定

(R4.3, R2.4, R1.2)

(1)汚染の種類

「固着性汚染」と「遊離性汚染」
　遊離性汚染は体内汚染につながる恐れがある

(2)測定法

・直接法　(R3.1)
　固着・遊離性汚染に有効
　サーベイメータによって汚染表面を直接測定する
　表面汚染密度＝(N－Nb)÷ (ε₁×W×ε_s)
N：測定した計数率　
Nb：バックグラウンドの計数率
ε₁：検出効率　　
W：測定器の有効面積
ε_s：汚染の線源効率

*サーベイ時定数が長い場合,よりゆっくり走査を行わないと検出能が下がる
(時定数の3倍で約95%)

*直接法は以下の場合には適用できない
「線源自体の汚染」　
「高バックグラウンドでの汚染」
「低エネルギーβ線核種の汚染」

・間接法(スミア法)
　遊離性汚染かつ,ふき取り表面が非浸透性の場合に有効
　表面汚染個所をろ紙で拭き,このろ紙を測定する
　表面汚染密度＝(N－Nb)÷(ε₁×F×S×ε_s)
F：ふき取り効率　　
S：ふき取り面積(100cm²)
　α線,β線も測定可能

空中の放射性核種の濃度測定

　(R2.4,R2.31(化学),R1.3)
・粒状性放射性物質の測定
　ろ紙とダストサンプラが合わさったダストモニタを使用する

・放射性ヨウ素の測定
　活性炭カートリッジを使用する

・ガス状放射性物質の測定
　プラスチックシンチレータ,NaI(Tl)で検出

・トリチウムの測定
　コールドトラップによる水蒸気凝縮
　モレキュラーシーブまたはシリカゲルでの捕集
　水にバブルして捕集し,液体シンチレータで計測

・水上置換法　
(R2.19(化学))
　水に溶けにくい気体の捕集に用いる

*バックグラウンドの影響
：ダストを捕集して測定する場合,ラドン,トロンの影響がある

法令における場所の測定に関してはこちら↓
「対策ノート：義務（測定-健康診断-緊急措置）」

義務(測定/健康診断/緊急措置)

場所の測定 　(R4.17, R1.18) 項目 測定場所 測定時期 放射線 の量 「使用施設」「詰替施設」「(廃棄物)貯蔵施設」 「廃棄施設」「管理区域境界」 「事業所内の居住区域」「事業所の境界」 ...

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